anasayfa     site haritası     ENGLISH
 
  • Kullanıcı Adı:     Şifre:        » şifremi unuttum    » yeni üye kaydı
    devamı
    ARAŞTIRMA GRUPLARI

    AFM (Atomik Kuvvet Mikroskobu):MFM-EFM-LFM

    Atomik boyutlara kadar sivriltilmiş bir iğne ucu yardımıyla, yüzeyin yüksek çözünürlükte, üç boyutlu görüntülenmesini sağlar. Görüntüleme, iğne ucunun yüzey ile etkileşiminin incelenmesi sonucunda gerçekleştirilir. Değişik amaçlar için farklı iğne uçları kullanılır. Taramalı alan mikroskobu üç farklı teknik kullanabilmektedir. Bunlar; iğnenin yüzeye temas ettirilerek uygulandığı temas yöntemi, iğnenin yüzeye temas etmediği temassız yöntem ve iğnenin yüzeye vurularak uygulandığı vurma yöntemidir. Örnek yüzeylerinin görüntülenmesi yanı sıra faz, elektrik iletkenlik ve manyetik farklılıklar da saptanabilmektedir

     
    Cihaz: XE 100
    Teknik Özellikler
    Model
    Tarama Alanı
    Dikey İnceleme Alanı
    XE 100
    100µm x 100µm
    25 µm
     
    Gerekli Örnek Özellikleri
    Örnekler maksimum 15 milimetrelik bir çap içerisine yerleştirilebilmelidir. İncelenecek yüzey yerleştirme yüzeyine paralel ve 8 milimetreden küçük olmalıdır.
     
    Uygulamalar
    İnce film kaplamaların yüzey incelemeleri.
    Organik ve inorganik malzemelerin yüzey incelemeleri.
    Yüzey incelemeleri yüzey düzgünlüğü, faz farklılıkları, elektrik iletkenlik farklılıkları ve manyetik alan yönü farklılıkları konularında yapılabilmektedir

     

      Broşür

     Yazıcı Dostu Sayfa    Arkadaşıma Gönder
    Güncelleme Tarihi: 27 Nisan 2012, Cuma
    Yayın Tarihi: 20 Temmuz 2010, Salı
    Ziyaret Sayısı: 6963